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          上海瑞敖紳進出口有限公司

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          環境型原子力顯微鏡 AFM5300E

          產品詳情

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          1000

          環境型原子力顯微鏡 AFM5300E

          零售價
          0.0
          市場價
          0.0
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          數量
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          暫時無貨
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          產品描述
          參數

          特點

          1. 環境控制功能(大氣,真空,液體,溫控等)

          AFM5300E能夠實現高真空的測試環境,最大限度減小樣品表面吸附水對測試的影響,實現精確的物理特性測量。 真空環境下可以實現更大范圍的溫度控制。

          (專利3857581號、專利3926638號)

          ? 大氣中 ? 液體中 ? 真空中 ? 特殊氣氛(流量控制)

          ? 溫度控制 加熱?冷卻(-120~300℃) 高溫(室溫~800℃)

          ? 濕度控制(0~80%)

           

          2. 簡便操作(綜合型Holder Flange)

          通過采用『綜合型Holder Flange開合功能』,樣品和掃描器更換更為方便的同時,免去了以往環境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調整。 也省去測試模式切換時的支架更換環節。

           

          3. 卓越的高性能

          采用了『Swing Cancel功能』,減輕了樣品的浮動,降低了漂移。提高了納米分析性能,提升了可信度。

           

          4. 通過減輕表面吸附水的影響,提高了電氣性能的檢測精度

          真空環境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響,因而實現高分辨高靈敏的電學性能分析。

           

          規格

          分辨率 原子相
          樣品尺寸 20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度擴展至20 mm)
          樣品移動范圍 X-Y stage 5 mm
          掃描范圍 標準: 20 μm□/1.5 μmH
          ? 150 μm□/5 μmH
          ? 15 μm□/1.5 μmH(閉環差控制) 
          定位顯微鏡 ? 簡易顯微鏡(×200倍) 
          ? 光學顯微鏡(×1000倍) 
          ? 變焦顯微鏡(×700倍)
          ? 金相顯微鏡(裝有微分干渉)(×2000倍)
          檢測功能
          • ? AFM(接觸模式)
          • ? DFM(輕敲模式)
          • ? PM(相位)
          • ? FFM(摩擦)
          • ? MFM(磁力)
          • ? SIS模式
          • ? LM-FFM(橫向摩擦)
          • ? VE-AFM/DFM(粘彈性)
          • ? Adhesion(吸附力)
          • ? CURRENT(電流)
          • ? SSRM(擴展抵抗)
          • ? SNDM(非線性介電常數)
          • ? PRM(壓電響應)、KFM(表面電位)
          • ? 液體中AFM/DFM
          • ? EC-AFM/STM
          • ? NanoIndentation(硬度)
          • ? Nano-TA(微區加熱)
          選配件 高溫加熱樣品臺 
          加熱冷卻兼用樣品臺
          冷卻真空
          溫度控制

           

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